三綜合試驗(yàn)箱的詳細(xì)介紹

                             三綜合試驗(yàn)箱
 

產(chǎn)  品  名  稱(chēng)  :  

型          號(hào)  :  ZB-SZH-306Z
數(shù)          量  :  1臺(tái)

試驗(yàn)機(jī)主要技術(shù)指標(biāo)

ZB-SZH-306Z

1. 工作室尺寸：60*85*60m （深×寬×高）；

2. 外型尺寸：1500×1100×2000 mm（以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)）

3.試驗(yàn)時(shí)參數(shù)：

（1）溫度范圍： -40 oC ～ +150 oC；全程降溫速率：5 oC/min.

     （2）溫度波動(dòng)度：不大于 ±0.5oC；

（3）溫度偏差：不大于 ±2oC；

     （4）濕度范圍：30％～98％RH；

     （5）濕度偏差： +2 -3%RH （75%RH以上時(shí)）； 

試驗(yàn)箱滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)：

² GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

² GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

² GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；

² GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；

² IEC68-2-1基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：寒冷；

² IEC68-2-2基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：干熱；

² GJB150.3-86軍/設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)；

² GJB150.4-86軍/設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)；

GB11158；GB10592；GB10589；GB2423.1、2、22；GJB150.3-86；GJB150.4-86等；

² GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca恒定濕熱試驗(yàn)方法；

² GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db交變濕熱試驗(yàn)方法；

² GJB150.9-86軍/設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法  濕熱試驗(yàn)；

系統(tǒng)組成整體概述

系統(tǒng)由以下部分組成

高低溫濕熱、快速溫度變化試驗(yàn)箱作用是提供高低溫濕熱試驗(yàn)環(huán)境；含制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、除濕系統(tǒng)、風(fēng)道系統(tǒng)、溫濕度控制系統(tǒng)、振動(dòng)臺(tái)與其同試驗(yàn)箱連接系統(tǒng)。